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BKTEM-S4型熱電賽貝克系數(shù)測試儀 關(guān)鍵詞：賽貝克系數(shù)，電阻 熱功率、熱電勢、或塞貝克系數(shù)描述的都是材料在一定溫差條件下產(chǎn)生感應(yīng)熱電電壓的大小，單位是V/K。 ??近年來直接將熱能轉(zhuǎn)化成電能的方法引起人們的廣泛興趣。通過熱電裝置收集熱發(fā)動(dòng)機(jī)和燃燒系統(tǒng)余熱并轉(zhuǎn)換成電能可以節(jié)省數(shù)十億美元。

SCTS-2000系型雙電測四探針測試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測-改進(jìn)形范德堡測量方法測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測試方法國家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)。利用電流探針、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測量，對數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測分析，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對測量結(jié)果的影響，它與單電測直線或方形四探針相比，大大提高正確度，特

熱刺激理論是在介質(zhì)物理的基礎(chǔ)上發(fā)展起來的，研究這一理論的方法即熱刺激法比較簡單實(shí)用而且又能較準(zhǔn)確地測量出某些物質(zhì)（如電介質(zhì)、絕緣材料、半導(dǎo)體、駐極體等）的微觀參數(shù)，熱刺激法是一面對材料升溫一面進(jìn)行測量，即非等溫測量。由于材料（例如介電材料）中的荷電粒子的微觀參數(shù)（如活化能h、松弛時(shí)間τ等）不同，用熱刺激法就很容易將材料中的各種不同h或τ的荷電粒子分離開來，從而求出各自的參數(shù)。因?yàn)闊岽碳る娏髋c材料的

TDT-3000 Analyzer型擴(kuò)展型鐵電分析儀 是一款的高速型模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電、熱釋電材料所有基本特性測試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。 模塊化設(shè)計(jì)的TDT-3000型鐵電分析儀 具有優(yōu)異的擴(kuò)展性，提供高達(dá)15中測試功能

TF ANALYZER 1000是一款緊湊型鐵電壓電分析儀，具備鐵電、壓電材料所有基本特性測試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用，適用于薄膜、厚膜和塊狀陶瓷及鐵電器件等分析測試。

ZJ-4型靜壓電D33電壓電流測試儀是一款在原來的設(shè)備基礎(chǔ)上，額外增加了電壓和電流采集系統(tǒng)的功能，該功能主要是針對壓電PVDF薄膜，在不同的運(yùn)動(dòng)和力的變化條件下，測試其壓電性能變化，是研究壓電薄膜性能的重要設(shè)備。也是本儀器是從事壓電材料及壓電元件生產(chǎn)、應(yīng)用與研究部門的儀器。 二、參考標(biāo)準(zhǔn): GB3389.4-82《壓電陶瓷材料性能測試方法 縱向壓電應(yīng)變常數(shù)d33的靜態(tài)測試》GB/T3389.5-